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红外波长的双折射/相位差面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产线上。
的功能
1.高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
2.测量数据的保存/读取
全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等
3.丰富的图形创建功能
从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
参数
