双折射仪，应力仪，超宽范围双折射测试仪

　　主要产品分四部分：

　　光子晶体光学元件；

　　双折射和相位差评价系统；

　　膜厚测试仪；

　　偏振成像相机。

　　『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列

　　快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的

　　相位差、双折射和内部应力应变分布

　　系统特点：

　　操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布

　　2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。

　　大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

　　偏光图像传感器的结构和测试原理

        超宽范围的双折射评价系统 WPA-200-H,WPA-200-L-H

WPA-200-H和WPA-200-L-H提供了测量超过10000nm的测量范围，这远远超出了一般双折射率测量的上限。L-H更是给您一个更大的观察视场。